XRD2DScan es una herramienta de software de Windows para visualizar y analizar patrones de difracción de rayos X bidimensionales (2D) o marcos recolectados usando un difractómetro equipado con un detector 2D o de área (placa de imagen, CCD, Multy-wire). Los patrones de difracción bidimensionales contienen una gran cantidad de información sobre la composición mineralógica y la microestructura de materiales policristalinos. Se puede utilizar para la identificación rápida de la fase mineral y la microestructura (orientación preferencial, figuras polares, tamaño de grano y estrés).

Principales características
Compatible con diferentes modelos y fabricantes de difractómetros: Bruker - SMART APEX, GADDS, PROTEUM -, Oxford Diffraction - SAPPHIRE -, Mar Research, ADSC, Rigaku RMax, Nonius KCCD, TIFF, BMP.
Compatible con diferentes geometrías de detectores: plana, cilíndrica (cámaras Debye-Scherrer o Guinier), esférica.
Genere varios tipos de exploraciones: exploraciones 2Theta, Psi, X e Y.
Múltiples parámetros de ajuste (longitud de onda, distancia al detector, tamaño del detector, coordenadas de haz directo g un estándar.
Base de datos de minerales y herramienta de identificación.

Código:

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